D1 Información titulos propios UPM en metrologia v1

Transcripción

TÍTULOS PROPIOS en METROLOGÍA
ofrecidos por la Universidad Politécnica de Madrid
(UPM) con la colaboración del Centro Español de
Metrología (CEM)
1 Introducción
El nuevo título propio de Máster en Metrología recoge la experiencia de tres ediciones de un
título similar pero se organiza ahora con una nueva estructura modular que ofrece una mayor
flexibilidad a los alumnos que quieran adquirir o profundizar sus conocimientos de metrología,
materia prácticamente ausente de muchas titulaciones universitarias o planteada con
contenidos muy limitados en los actuales grados o másteres universitarios.
La estructura del nuevo Máster a partir de un título de Experto (a distancia) y otro de
Especialización (semipresencial), más la realización y superación de un Trabajo Fin de Máster
(TFM), permite dosificar el esfuerzo de los alumnos facilitando que los que posean más
disponibilidad de tiempo puedan conseguir los títulos de Experto y Especialización en un
mismo curso académico, y abordar el TFM durante los siguientes cuatro meses. Sin embargo,
otros alumnos pueden decidir ir más despacio y utilizar el periodo de tres años que la
Normativa de Títulos Propios de la UPM establece. Asimismo, la actual oferta permite que
aquellos alumnos que sólo aspiren a un primer nivel de titulación puedan conseguirlo con el
título de Experto en Metrología. A su vez, las asignaturas del título de Experto en Metrología se
integran, también, en el curso de Especialización que se ofrece por la UPM con varias
intensificaciones de la metrología.
Dada la estructura modular apuntada, se recomienda que los alumnos que aspiren al Máster
en Metrología lo realicen mediante matrículas sucesivas de los estudios de Experto en
Metrología, Especialización en Metrología y, finalmente, Máster en Metrología.
Por consiguiente, el Máster en Metrología, título propio de la Universidad Politécnica de
Madrid, se estructura modularmente en la forma siguiente:
•
Un primer nivel de Experto en Metrología (18 ECTS), módulo M0.
•
Un segundo nivel de Especialización en Metrología (48 ECTS) en el que se incluyen
los 18 ECTS del Experto en Metrología, es decir, añade 30 ECTS, módulo M1, sobre
los necesarios para el Experto en Metrología. Los 30 ECTS citados se organizan con
12 ECTS comunes y 18 ECTS por cada una de tres posibles intensificaciones.
•
Un tercer nivel de Máster en Metrología (60 ECTS) en el que se incluyen los 48
ECTS del curso de Especialización en Metrología (en cualquiera de las tres
intensificaciones), añadiéndose 12 ECTS, módulo M2, para la realización de un
Trabajo Fin de Máster (TFM).
Laboratorio de Metrología y Metrotecnia ETSII-UPM
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Títulos Propios UPM en Metrología
Los estudios de Experto en Metrología se imparten a través de internet en la modalidad “online” y los de Especialización en Metrología y Máster en Metrología son semi-presenciales. En
el caso de Especialización en Metrología se concentran las sesiones presenciales durante una
semana. La realización del Trabajo Fin de Máster (TFM) para obtener el Máster en Metrología
también requerirá una serie de reuniones con el tutor correspondiente y la defensa presencial
del TFM, aunque pueden estudiarse fórmulas particulares al respecto mediante
teleconferencia.
2 Requisitos para la admisión
Para ser admitido a las enseñanzas indicadas, es necesario poseer una titulación universitaria
(grado, máster o equivalentes). Los requisitos de acceso y admisión serán conformes al artículo
23 de la Normativa de las Enseñanzas Propias de la Universidad Politécnica de Madrid,
aprobada en Consejo de Gobierno en su sesión de 25 de abril de 2013, que incluye los
siguientes:
2º. Estar en posesión de un Título Universitario Oficial Español, de un título del EEES, o
de un título conforme a sistemas educativos ajenos al Espacio Europeo de Educación
Superior, sin necesidad de la homologación de sus Títulos, previa autorización de la
Universidad a través de la Comisión de Posgrado de Títulos Propios (CPTP), y una vez
comprobado que los mismos acreditan un nivel de formación y competencias
equivalentes a los correspondientes Títulos Universitarios Oficiales españoles, y que
facultan en el país expedidor del Título para el acceso a enseñanzas de Posgrado. Esta
titulación debe acreditarse al inicio de los estudios.
3º. Estar en posesión de un título propio de Grado impartido por la UPM.
No obstante para el primer módulo, cuya realización permite obtener el título propio
UPM de Experto en Metrología, se podrá eximir a los candidatos de los requisitos de
estudios de los párrafos anteriores, mediante documentación en la que se acredite una
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amplia experiencia profesional de acuerdo con el perfil de acceso al curso. El número de
alumnos de este tipo estará limitado por curso académico no pudiendo en ningún caso
ser superior al 40% de los alumnos totales admitidos. Sin embargo cuando un título de
Experto forme parte de un curso de Especialización, como es el caso del curso de
Especialización en Metrología, los requisitos para poder acceder y posteriormente
obtener el título de Especialización en Metrología deben ser los mismos que los del
apartado 2º del artículo 23.
El importe de la matrícula de la matrícula en los estudios mencionados es el siguiente:
Experto en Metrología
1 620 €
Especialización en Metrología
3 900 €
(con el reconocimiento de los créditos
de Experto en Metrología)
Máster en Metrología
1 380 €
(con el reconocimiento de los créditos
de Especialización en Metrología)
El importe total de la matrícula para completar la Especialización en Metrología es de
1 620 + 3 900 = 5 520 €.
El importe total de la matrícula para completar el Máster en Metrología es de
5 520 + 1 380 = 6 900 €.
Las tasas de emisión de los títulos propios, una vez aprobadas todas las asignaturas
correspondientes y el TFM, en su caso, tienen en el curso 2014-15 los siguientes importes:
Experto en Metrología
Especialización en Metrología
37,69 €
75,38 €
176,27 €
3 Curso 2014-15
Debido al proceso de tramitación de los nuevos módulos que concluyó a finales de julio de
2014, durante el curso académico 2014-15 sólo se han programado los estudios de Experto en
Metrología a desarrollar entre febrero y mayo de 2015. En el próximo curso académico se
ofrecerán las enseñanzas de Especialización en Metrología. Los alumnos que comiencen los
estudios de Experto en febrero de 2015, y que aspiren al Máster en Metrología, podrán
finalizar la Especialización en junio de 2016 y el Máster en diciembre del mismo año.
El proceso de preinscripción y matrícula se realiza en la UPM por vía telemática. Ya es posible
realizar la preinscripción y se recomienda hacerlo cuanto antes pues se atenderán las
solicitudes por orden de recepción de las mismas.
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La Comisión de Posgrado de Títulos Propios (CPTP) de la UPM comprobará que los documentos
presentados justifican los requisitos exigidos y autorizará la matrícula correspondiente.
La preinscripción se realiza desde
http://www.upm.es/portal/site/institucional/
Estudiantes
Estudios y titulaciones
Estudios propios de postgrado y formación continua
Experto
Metrología
En este punto se abre una información para Experto en Metrología. Al final de la
misma se encuentra el enlace Preinscríbete en este programa (también está el
enlace al principio de esta pantalla, en la línea 3).
Se inicia entonces el programa ATENEA donde se debe introducir un correo
electrónico UPM y su contraseña, si ya se tuviesen, o solicitar una nueva cuenta de
correo. A continuación hay que dirigirse a preinscripción y cumplimentar los apartados
siguientes:
o Preinscripción
Datos personales
Información adicional
Elección de título
Documentación a presentar
Información académica
Fotografía carné universitario
Cerrar preinscripción
Todos los campos con * son obligatorios.
En Elección de título debe situarse Experto en la primera ventana y marcar
EXPM.05.0510.01 – METROLOGIA en la segunda.
En Documentación a presentar hay que adjuntar documentos obligatorios: DNI o
equivalente, curriculum vitae, títulos o certificados académicos, etc., y otros opcionales
por lo que hay que tenerlos en formato pdf con tamaño máximo de 1 MB.
En los títulos propios de Metrología se tendrá en cuenta para la selección:
• Formación previa y curriculum vitae
• Carta de motivación
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4 Contenidos de las asignaturas
Un resumen de los temas de cada una de las asignaturas del módulo M0 para Experto en
Metrología se recoge en la página web de la UPM antes señalada. Un fichero adjunto
contiene los temarios resumidos de las asignaturas de cada uno de los módulos.
La lista general de asignaturas es la siguiente:
Módulo
Submódulo
M0
M1
M10
M11
M12
M13
M2
ECTS
Código Denominación de la asignatura
M001
M002
M003
Fundamentos de metrología
Patrones y trazabilidad
Sensores e instrumentación
6
3
3
M004
Metrología y calidad
6
M101
M102
M103
M111
M112
M113
M114
M115
M121
M122
M123
Elementos de estadística
Modelos para calibraciones y medidas
Origen y futuro de la metrología
Unidad de longitud y primeros niveles de diseminación
Mediciones de ángulos y formas fundamentales
Determinación de la calidad superficial y nanometrología
Metrología por coordenadas
Aplicaciones en fabricación y topografía
Metrología de masa
Metrología de fluidos
Metrología en ensayos mecánicos
3
6
3
5
3
3
4
3
4
5
6
M124
M131
M132
Metrología de otras magnitudes mecánicas
3
Patrones nacionales de magnitudes eléctricas
Metrología térmica y de magnitudes relacionadas
5
8
M133
Metrología industrial de magnitudes eléctricas y magnéticas
5
M201
Trabajo Fin de Máster
12
Total
60
En el módulo M1 el submódulo M10 es obligatorio, debiendo escogerse uno de los
submódulos optativos, M11, M12 o M13 para completarlo.
Todo el material de las asignaturas (textos, ejercicios, tareas y otras informaciones) se
facilitará a través de una plataforma Moodle. Si fuese necesario podrían utilizarse otras vías
de comunicación por Internet.
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5 Profesorado
Los profesores de los títulos propios de la UPM en Metrología, más de cincuenta, son
especialistas en diferentes áreas y aspectos de la metrología y pertenecen al CEM, a otros
organismos de la Administración, a varias universidades y a empresas relacionadas con el
sector. Todos ellos tienen, además, gran experiencia en la docencia de la metrología y la
inmensa mayoría ha participado en las tres ediciones previas del Máster en Metrología de
la UPM.
En el módulo M0 (Experto en Metrología) participan veintidós de aquellos profesores.
6 Trabajos Fin de Máster
Relación de Trabajos Fin de Máster propuestos en las tres primeras ediciones del
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Ampliación del alcance de acreditación de un laboratorio ENAC en el área de caudal
de gas
Ampliación del método diferencial a convertidores térmicos no cuadráticos
Análisis de la inconsistencia por falta de unicidad de la EIT-90
Análisis de las magnitudes de influencia en la calibración y verificación de medidores
de gases: aplicación a instrumentos con distintos principios de medida
Análisis de los métodos de evaluación de la histéresis en los termómetros de
resistencia de platino industriales con objeto de mejorar el tratamiento de las
normas ASTM E644 e IEC 60751
Análisis de los parámetros a considerar para garantizar la comparabilidad de las
medidas obtenidas mediante perfilometría de contacto, en el campo de la calidad
superficial
Avaliação da performance de máquinas de medição por coordenadas na indústria,
recorrendo à utilização de artefactos calibrados
Calculo de ecuaciones de calibración para mezcla de gases según la norma UNE-EN
ISO 6143
Calibración de piezoeléctricos por comparación mediante sistema de generación de
alta presión dinámico
Calibración de radares de medida de velocidad inicial
Calibración de tensión alterna en baja frecuencia mediante muestreo digital
Calibración del procedimiento de determinación de tensiones residuales no
uniformes en profundidad mediante el método del taladro incremental en placas
metálicas planas (norma ASTM 0837-08)
Caracterización del banco de granito de 25 m con láser tracker y otros instrumentos
de medidas
Comparación de sistemas de medida de resistencias de alto valor
Consecuencias de la actualización de la ISO 376 para la calibración de transductores
de fuerza
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Contribuciones a la Incertidumbre en la preparación de materiales de referencia
gaseosos por método gravimétrico
Desarrollo de procedimiento y “software” para la calibración de piranómetros por
comparación con un piranómetro de referencia
Desarrollo de un modelo de calibración para máquinas ópticas digitales
Determinación de la densidad del aire y del coeficiente de desorción mediante el
método gravimétrico y el empleo de artefactos
Determinación de la incertidumbre en la distribución isotópica de biomoléculas
mediante simulaciones de Monte Carlo
Determinación de la longitud de una palanca de tipo disco por medios mecánicos
Determinación de volúmenes de grandes tanques de almacenamiento en buques
mediante láser “tracker”, valorando las deformaciones debidas a cambios de
temperatura
Diseño, desarrollo y aplicación de procedimientos técnicos para la evaluación de la
incertidumbre de medida de equipos TLS (“Terrestrial Laser Scanner”)
Establecimiento de la “ecuación del haz” y análisis de incertidumbres en las
instalaciones actuales del Centro Nacional de Dosimetría para su fuente de 137Cs
Estimación de incertidumbres por el método de Monte Carlo en un susceptómetro
Estimación de la corrección por desadaptación de impedancias en las medidas de
potencia de radiofrecuencia
Estimación de la incertidumbre para la calibración de pipetas automáticas
comparando la metodología establecida en la norma ISO 8655-6 con el cálculo por
diferentes modelos
Estudio de deriva de los instrumentos de pesaje mediante comparación del estado
del instrumento antes y después de ajuste, para distintas tipologías de instrumentos
de pesaje
Estudio de la trazabilidad metrológica de los instrumentos de medida utilizados en
auscultación de presas
Evaluación de la dependencia del nivel de tensión de los convertidores térmicos de
tensión alterna a baja frecuencia
Gestión automática de datos en calibraciones , desde la oferta hasta el certificado
Herramienta genérica para la estimación de la incertidumbre de calibración
empleando el método de Monte Carlo
Implantación de la norma UNE-EN ISO/IEC 17043:2010 para la organización de
comparaciones de gases atmosféricos “in situ”
Implantación e integración de la Responsabilidad Social Corporativa (RSC), en los
Sistemas de Gestión de la Calidad del CEM
Incertidumbre asociada al límite de detección (LD) de biosensores ópticos con
aplicaciones biomédicas
Medida de radios de curvatura de superficies esféricas con esferómetro digital
Mejora de incertidumbre en un sistema de medida de alta tensión corriente
continua hasta 200 kV, a partir de los resultados obtenidos en una comparación
internacional
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Método de ensayo y validación para la determinación de la concentración másica de
amoniaco en aire ambiente por quimioluminiscencia
Optimización del rendimiento de instalaciones solares mediante alineamiento de
paneles con láser “tracker”
Procedimiento de calibración de sensores de medida de dirección de viento
Procedimiento de calibración dinámica de sensores de presión balística del tipo
piezoeléctrico con aplicación del método de simulación Monte Carlo
Propuesta de regulación para la verificación metrológica de equipos de medida a
instancia de parte con evaluación económica: aplicación a los sectores eléctrico, de
gas y agua
Proyecto de líneas base y diseño de un procedimiento de calibración de
instrumentos geodésicos de medición electro-óptica de distancias en la Universidad
del Quindío (Colombia)
Sistema de control metrológico de los preenvasados en España
Trazabilidad de las medidas de caudal de agua (2~120 ml/min) realizadas mediante
una balanza de precisión y un ordenador
Trazabilidad en la calibración dinámica de transductores de par
Trazabilidad en la verificación de tamices mediante técnicas ópticas
Validación del procedimiento para la calibración de alcohosensores (etilómetros),
por el método de simulación de aliento alcohólico con gas húmedo
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