Carl Zeiss de M éxico

Carl Zeiss de M éxico
Microscopía para Materiales
Versión 2012
Sim ple. Inteligente.
Mejor Integrado. Enfoque en resultados.
En la actualidad, la rutina de observación en m ateriales dem anda visualizaciones
m ás exigentes.
Con Carl Zeiss ahora usted puede obtener m ejores resultados en los cam pos de
óptica, m ecánica, precisión y visualización electrónica.
U na am plia gam a de productos, dem ostración, capacitación y servicio técnico,
integran los com ponentes para brindarle un sistem a de Microscopía de acuerdo a
las necesidades de su laboratorio.
M ás brillante.
M ás Convincente.
La Industria tiene m uchas dim ensiones.
1
Flexibilidad
Versatilidad en la configuración
A xio Lab A .1
1
D estacando lo esencial.
Con Axio Lab.
Lab .A 1, Carl Zeiss presenta el
m icroscopio en posición vertical para
aplicaciones de rutina básicos y de
educación avanzada en el análisis
de m ateriales.
D isponible con
Luz reflejada,
polarización
y versión para
conoscopía.
Axio Vert A.1
Elanálisis m icroestructuraly estructurales cuestión de contraste.
Es un m icroscopio invertido y com pacto, ideal para exam inar las
m uestras grandes y pesadas
pesadas, utilizando una am plia gam a de
m étodos de contraste clásicos y avanzados.
Puede cam biar fácilm ente entre claro, cam po oscuro, DIC, C-DIC,
fluorescencia y contraste de polarización en la luz reflejada.
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Axio Scope
Diversidad excepcional. U n caballo de batalla m ultifacético.
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Para aplicaciones industriales en proyectos de investigación, análisis de daños,
superficies y perjuicios, caracterizar estructuras y análisis digital. Disponible en
configuración estándar, polarización y en versión para observación de m uestra grande.
Axio Im ager 2
La nueva dim ensión deldesem peño.
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La fam ilia A xio Im ager ofrece la m ayor calidad disponible en la
m icroscopía vertical de cam po claro para sus aplicaciones en
m ateriales, tanto en térm inos de rendim iento y funcionalidad.
A xio Im ager está disponible en configuración estándar, equipado
para la m icroscopía de polarización y tam bién com o una versión
am plia m uestra dedicada a las aplicaciones en la industria solar y de
sem iconductores.
Axio O bserver
A nálisis preciso.
La óptica con corrección de
trayectoria del haz apocrom ático
provee a sus im ágenes un brillo
uniform e sin precedentes.
Disponible en tres versiones,
ones
este sistem a de soporte robusto
invertido va desde el nivel de
entrada básico con excelentes
resultados de im agen , hasta a un
rendim iento superior con la
m otorización com pleta.
A xio O bserver ofrece todos los
m étodos de luz transm itida y
reflejada: claro, cam po oscuro,
polarización y fluorescencia de luz
reflejada, así com o los m étodos
innovadores de contraste, tales
com o C -DIC (circular DIC), perfecta
para contrastar las estructuras
orientadas.
2
V elocidad
Ilum inación estructurada
Stem i D V 4
Estereom icroscopios.
Stem i 2000
Rendim iento im presionante en
im ágenes 3D m ás nítidas, m ás
brillantes y com pletam ente libre
de distorsiones.
ones.
Diseño com pacto que incorpora la tecnología robusta.
Im ágenesbrillantes.
Ó ptica de calidad y una ilum inación variable de LED.
LED.
Espectacular rango de zoom
7 , 7: 1 que revela hasta el m ás
m ínim o detalle.
SteR EO D iscovery. V 8, V 12 y V 20
Redescubriendo elvalor de la inversión, cada día.
Ilum inación LED
Interface a im agen digital
Fluorescencia brillante: PentaFluar S
Ergo-fototubo binocularS 5-45°.
. 1,% !
2 * 34
Discovery.
scovery.V20 SteREO con un zoom de 20x,
es el único estereoscópico que perm ite un
conector rápido desde el m odo de visión
generala los detalles de la im agen.
. 1,% !
2 * 3 5 35
3
Confocales
Excelente precisión en los detalles
Axio CSM 700
M ediciones en un parpadeo.
Excelentes resultados en la industria
A eroespacial, Forense, M etal-m eánica,
A utom otriz, G eología y Exploración,
M anufactura, M icroelectrónica,
Sem iconductores, Papel,
Polím eros y M ediciones.
LSM 700
Topografía 3D para análisis y pruebas.
Láser de barrido 3D.
M odo de Fluorescencia que revela
los defectos estructurales o de relieve.
.
(
Inclinación de hasta 90°
90 °.
4
Profund idad
Excitación m ultifotónica
SU PR A 55 V P
Field Em ision Scanining Electron M icroscope
Sim plem ente cada vez m ejor.
ElSU PRA ® 55 VP es m icroscopoio con un propósito generalde
ultra alta resolución FE-SEM gracias a su única tecnología de
colunm a G EM IN I®.
Com bina excelentes propiedades de im agencon la capacidad de
análisis hace que este extrem o alto FE-SEM sea adecuado para
una am plia gam a de aplicaciones en ciencia de m ateriales,
ciencias de la vida y la tecnología de sem iconductores.
0 $
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Efectividad
Elanálisis estructural
es cuestión de rapidez.
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EV O ®15 M A
Scanning Electron M icroscope
Im agen superiory soluciones en elanálisis de m ateriales.
Eje m otorizado y capacidad de presión variable fácil de
usargracias a su softw are de Sm artSEM
El m icroscopio EVO ® M A 15 ofrece una solución perfecta
de im ágenes en los cam pos de la geología, la m edicina
forense y análisis de fallos.
w w w .zeiss.com .m x/industria
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