Inauguración de las nuevas instalaciones de FISCHER

Inauguración de las nuevas instalaciones de FISCHER

No.
07
01
E S PA Ñ A
10/09
FISCHER NEWSLETTER
Espesor de Recubrimientos
Análisis de Materiales
Microdureza
Ensayo de Materiales
«editorial»
«observado con más detalle»
Estimados
lectores
Inauguración de las nuevas
instalaciones de
FISCHER INSTRUMENTS, S.A.U
Nos complace entregarle la última edición de
nuestro boletín de noticias FISCHERSCOPE.
Este año, hemos invertido nuevamente en proximidad con el cliente y competencia en Europa,
Asia y Sudamérica. Con la apertura de nuestras
dos oficinas nuevas en São Paulo (Brasil) y Seúl
(Corea del Sur) y el traslado a las oficinas nuevas
en Milán (Italia) y Barcelona (España), hemos
ampliado nuestra red global de venta, servicio
técnico y competencia. No obstante, también en
otras áreas estamos más cerca del cliente: por
ejemplo, FISCHER participó, por primera vez tras
varios años, en la BASELWORLD 2012, se llevaron
a cabo numerosos seminarios para clientes
sobre el tema «medición» y se dotaron de
nuevos recursos los laboratorios de aplicación
en forma de nuevos empleados, etcétera.
Contenido de esta edición: a raíz de la huida
mundial hacia los valores duraderos el precio del
oro llega a máximos históricos. Con el nuevo instrumento por fluorescencia de rayos X XAN® 220,
FISCHER ofrece la solución adecuada para efectuar de forma rápida, no destructiva y, sobre
todo, fiable pruebas del contenido de oro. La
precisión de estos equipos se encuentra ahora al
más alto nivel. La corrección se garantiza gracias
a los estándares de oro de Helmut Fischer.
Consulte el artículo de la última página, pero
también el primero sobre los análisis rápidos y
sencillos de oligoelementos en materiales para
la bisutería y los accesorios.
Además de los equipos de medición, Helmut
Fischer también fabrica para estos patrones de
calibración de gran calidad. Su uso garantiza una
medición correcta. Por ejemplo, en la página 3,
le presentamos los nuevos estándares SnPb.
Póngase en contacto con nosotros para hacernos llegar sus aportaciones y observaciones
sobre nuestros artículos o respecto a una tarea
de medición especial. Estaremos encantados de
asesorarle.
Atenamente,
Walter Mittelholzer
Joan Pujol
CEO
Director Técnico
Helmut Fischer Holding AG
Fischer
Helmut Fischer AG
Instruments, S.A.
El pasado día 29 de Noviembre tuvo lugar la inauguración oficial de las nuevas
instalaciones de FISCHER INSTRUMENTS, S.A.U. en Barcelona en el número 99 de la
calle Pallars y en el nuevo barrio tecnológico del 22@.
La inauguración fue realizada por el Sr. Walter Mittelholzer, Director Gerente
de HELMUT FISCHER A.G. y HELMUT FISCHER HOLDING, A.G., que se desplazó
expresamente desde Suiza para encabezar el acto, el Sr. Christoph Hüssler,
Director comercial para Europa de HELMUT FISCHER, A.G. y por el Sr. Joan Pujol,
Responsable de FISCHER en España; también acudieron responsables de la prensa
técnica, proveedores, clientes y empleados, que han permitido a la empresa consolidarse y avanzar con paso firme.
Después de unos breves parlamentos en los que se hizo un recuerdo a los momentos más destacados de la historia de la sociedad el Sr. Mittelholzer procedió a
descorrer la cortina que cubría la placa conmemorativa del acto
Con unas instalaciones de más de 350 metros cuadrados se refuerza también la
presencia de la compañía en España, después de que HELMUT FISCHER HOLDING,
A.G. haya inaugurado este año nuevas instalaciones en Italia, Brasil y Corea del Sur.
A destacar en esta nueva infraestructura es la sala de demostraciones de más de
cincuenta metros cuadrados donde se exponen todos los equipos de la gama
FISCHER; medidores de espesores de recubrimientos por los métodos tradicionales
y por fluorescencia de rayos X y ensayo de materiales.
Además se ha instalado un equipo para el análisis de materiales por fluorescencia
de rayos X que incorpora un sistema para realizar el vacío y un ultra micro durómetro para realizar ensayos de dureza a escala nanométrica.
Con estas instalaciones FISCHER apuesta claramente por proporcionar más atención al cliente y un mejor servicio post-venta, al invertir en este nuevo centro más
amplio y moderno, con una zona importante dedicada a la demostración de sus
productos y con el objetivo de dar una atención y servicio impecables.
«de la experiencia práctica»
Análisis de oligoelementos en materiales para
la bisutería y los accesorios
Figura 1: los artículos de bisutería están en contacto constante con la piel humana. Por tanto, el contenido de sustancias nocivas está limitado en cada material.
En todo el mundo, se están haciendo esfuerzos para limitar la
concentración de ciertos elementos químicos en los bienes de
consumo. Después de que elementos como el plomo, el mercurio,
etcétera, se hayan «eliminado» de los productos electrónicos,
también se deben establecer directrices parecidas para otros
productos. Se ven afectados, por ejemplo, artículos de bisutería,
piezas de relojes o accesorios, como piezas metálicas de bolsos,
monederos u otras partes de prendas de vestir. Por ello, trabajan
organizaciones estatales, como, por ejemplo, la CPSC de EE. UU.,
y comisiones específicas de cada gremio, como, por ejemplo,
Oeko-Tex®, una organización que lucha por los tejidos sin sustanoligoelemento
matriz
desviación típica
[ppm]
Pb
ABS
Al
0.5
2
Pb
Cu
Zn
Sn
Latón, real
SnBi2, real
SnBi50, real
13
20
0.6
10 – 30
5 – 15
50 – 100
Tabla 1: valores típicos para precisión de repetición de los valores individuales
en la medición de oligoelementos (EDXRF). Las desviaciones típicas son una
medida directa para las concentraciones mínimas, que se pueden comprobar
cias nocivas. Se deben limitar diversas sustancias nocivas orgánicas, pero también metales pesados, especialmente Pb, Cd y Ni. Los
valores límite varían considerablemente según el país y el sector.
Las empresas que producen para el mercado global siguen, razonablemente, las directrices más estrictas para facilitar el comercio.
Esto significa, por ejemplo, máx. 100 ppm de Cd y máx. 90 ppm. de
Pb. Las piezas metálicas de la bisutería o los accesorios no se fabrican con materiales macizos debido a los costes. Los cuerpos base
se fabrican con aleaciones baratas, especialmente bien trabajadas,
y se cubren con capas decorativas, a continuación. En ello, tanto el
material de base como el de la capa no deben contener Pb ni Cd.
Sin embargo, comprobarlo individualmente no es trivial.
Por eso, se analiza el modelado y el revestimiento de los materiales
base, como latones, aleaciones de cinc, etcétera, de la forma más
eficiente.
Los análisis se llevan a cabo, normalmente, con emisión óptica ICP
o aparatos de análisis de fluorescencia de rayos X. Los puntos fuertes de ambos métodos son muy diferentes y complementarios. Los
análisis EDXRF son muy eficaces y baratos y la comprobación
normalmente es suficiente (consulte la tabla 1).
La tabla ilustra que la comprobación de trazas de plomo en aluminio es mucho más fácil que en soldaduras de SnBo o latones. ¿Por
qué es esto así, es decir, cómo se puede calcular la dificultad de
este tipo de tareas de medición? Básicamente, los elementos pesa-
en un material (límite de determinación ~3 × desv. típ.).
FISCHERSCOPE®
No. 07
dos (con número atómico alto) se pueden comprobar bien en
materiales matriz (con número atómico bajo). La comprobación de
Pb en plásticos, metales ligeros o materiales óxidos funciona muy
bien con EDXRF. En cambio, las aleaciones de In Fe, Cu y Zn son
más difíciles para esta comprobación. Para contemplaciones más
concretas, se debe tener en cuenta la situación específica en el
espectro de fluorescencia (energías concretas de cada línea de
fluorescencia, comportamiento, absorción / excitación recíprocas).
Los límites de determinación profundos son un requisito importante para el método.
Además, la exactitud de las mediciones también se debe tener muy
en cuenta. Esta se ha analizado en diversas tareas de medición.
Figura 2: correlación de mediciones de concentración XRF de Pb y valores
nominales certificados. Los datos son muy exactos ya antes de la calibración y esto es muy importante en un proceso de medición robusto. Como la
variación de los valores de medición de componentes reales es mayor que en
Como ejemplo, aquí se muestran algunos resultados de los exigentes análisis XRF de aleaciones de fundición de ZnAl con aparatos
FISCHERSCOPE XDV®-SDD (consulte la figura 2). Incluso sin calibración, los valores de medición se acercan mucho a los valores nominales certificados. Los aparatos FISCHER X-Ray se utilizan en todo
el mundo para la selección de materiales para producir bisutería
o accesorios.
los elementos puros, se debe trabajar con valores medios de varias mediciones
individuales (aquí se muestran valores medios de diez mediciones individuales, 95 % de intervalo de confianza).
Dr. Daniel Sutter,
Helmut Fischer AG (Suiza)
«observado con más detalle»
Estándares de calibración SnPb nuevos para análisis
de fluorescencia por rayos X en el campo de
alta fiabilidad
La figura 1 muestra diversas placas de circuito impreso. La soldadura y los revestimientos de los grupos de construcción electrónicos se pueden medir, por ejemplo,
con el FISCHERSCOPE® XDAL®.
El método por fluorescencia de rayos X no destructivo es muy apto
para analizar la composición de soldaduras y revestimientos de
estaño. Especialmente el análisis de Pb en aleaciones de estaño
para soldar es una aplicación importante y muy extendida de los
No. 07
aparatos FISCHERSCOPE® X-RAY. Por un lado, la cantidad de Pb
permitida está limitada por razones sanitarias y, por otro, también
hay aplicaciones en las que el estaño para soldar debe contener
una concentración mínima de Pb. La norma RoHS regula el uso de
FISCHERSCOPE®
distintas sustancias nocivas, entre ellas Pb en componentes electrónicos, para que estas no puedan llegar multiplicadas al medio
ambiente. Así, en los últimos años se han sustituido las soldaduras
que contenían Pb por otras sin plomo y se debe comprobar que el
Pb no supere el valor límite de 1000 ppm. La Consumer Product
Safety Improvement Act (Ley de mejora de la seguridad de los
productos: CPSIA) también ha regulado el uso de Pb y en 2011 bajó
el valor límite permitido a 100 ppm.
dependen, no obstante, de los más distintos factores. Entre otros,
influyen el proceso de fabricación, por ejemplo, si la aleación se
enfrió de golpe o poco a poco, la elaboración mecánica de la
superficie, el almacenamiento y el envejecimiento de las muestras,
etcétera. La tabla 1 muestra imágenes de SEM de electrones retrodispersados de distintas muestras de SnPb con un contenido de Pb
mayor al 3 %, así como los resultados sin estándar correspondientes. Las «islas» claras son la fase abundante en Pb, la «matriz» gris
oscura es la fase abundante en Sn. Se puede identificar que las
«islas» pueden tomar una dimensión distinta y que están repartidas más o menos homogéneamente. La extensión, es decir, la
heterogeneidad, también influye en las condiciones de intensidad
de las líneas de fluorescencia de rayos X. En la muestra de referencia homogénea, el valor XRF sin estándar tiene mucha coincidencia con el valor nominal, así que el contenido en Pb también se
puede comprobar bien sin estándar. No obstante, cuanto más crece la heterogeneidad, la desviación con el valor nominal aumenta
(consulte la tabla 1).
Sin embargo, en los sectores de la aviación y de la tecnología
médica (aplicaciones de alta fiabilidad) se requieren únicamente
soldaduras que contengan Pb. En este punto, se debe probar que
las aleaciones para soldar contienen un 3 % de Pb como mínimo.
La razón es que el Sn puro tiende a formar triquitas. Las triquitas sin
monocristales de Sn aciculares que aparecen en la superficie
después de cierto tiempo y pueden provocar un cortocircuito. La
comprobación de estos componentes es, por lo tanto, una tarea
importante y de gran responsabilidad, que, generalmente, necesita un control total de todos los componentes de construcción.
Un efecto del envejecimiento, que también se describe en la documentación, puede notarse en las aleaciones SnPb con contenidos
de Pb en el intervalo de ppm. De este modo, se podría observar,
especialmente en muestras que se han almacenado inadecuadamente (por ejemplo, en una temperatura demasiado elevada), un
Con ayuda del análisis de fluorescencia por rayos X, se puede
medir la composición de las aleaciones de estaño para soldar
rápidamente y de forma no destructiva. Con el software WinFTM,
también se puede determinar el grosor de recubrimiento y, con él,
muestra de referencia
a snpb3
muestra
snpb3
muestra
snpb8
alambre eutéctico
snpb38
10 μm
10 μm
10 μm
50 μm
Valor nominal de Pb en
porcentaje de masa %
3,1 (+/- 0,15)
3,0
8,5
38
Pb medido en porcentaje
de masa %
3,0
2,8
7,5
33,6
Rel. dif. nominal, según %
3
6
12
12
sinh (Heterogeneidad)
0,05
0,11
0,3
1,0
Imagen de SEM
por electrones
retrodispersados
Tabla 1: mediciones de distintas aleaciones de SnPb con el FISCHERSCOPE® XDAL®. (50 kV, filtro Ni, diafragma 0,2 mm × 0,2 mm, superficie 3 mm × 3 mm con 64 puntos,
tiempo de medición de 100 s, la heterogeneidad sinh se calcula de sinh2 = sges2 - swdh2).
la composición correcta del revestimiento de SnPb en distintos
componentes electrónicos, como placas de circuito impreso,
enchufes y contactos, resistencias BGA o SMD y condensadores
(figura 1). Al medir la composición de SnPb, se debe prestar
atención a la capa de acabado de componentes de construcción
SMD, ya que la cerámica o las capas subyacentes también pueden
contener Pb. Para este caso, existe una tarea de medición especial
que lo tiene en cuenta.
El Sn y el Pb constituyen una aleación eutéctica. Siempre existen
simultáneamente una fase abundante en Sn y una abundante en
Pb. La solubilidad máxima de Pb en Sn se eleva al 2,5 % de la masa
y la de Sn en Pb, al 19 % de la masa. Esta composición real de las
fases y la homogeneidad, es decir, la estructura de esta aleación,
FISCHERSCOPE®
aumento de la concentración de Pb pasados unos años. El Pb se
había concentrado en la superficie. Por lo que la superficie de esta
muestra envejecida deberá volver a pulirse antes de la medición. A
la vez, debe observarse que no entre en contacto con la muestra
una solución adherida. Esta problemática muestra claramente la
importancia que tiene que los materiales de referencia se elaboren
cuidadosamente para el sistema y que se comprueben regularmente. Helmut Fischer GmbH ofrece materiales de referencia para
ambas aplicaciones (RoHS y alta fiabilidad), en la fabricación de los
cuales se ha dedicado un gran esfuerzo en la homogeneidad del
material.
Ahora, la calidad de las aleaciones con 3 % de Pb se puede mejorar
considerablemente con un nuevo procedimiento de fabricación,
No. 07
para que se pueda alcanzar una buena distribución
homogénea de la fase abundante del Pb incluso
con aparatos de fluorescencia por rayos X con
ningún punto de medición inferior a 50 μm (por
ejemplo, con el XDVR-μ con óptica X policapilar. La
figura 2 muestra la imagen de SEM por electrones
retrodispersados correspondientes, así como un
escaneado de línea sobre la muestra en comparación con un material de referencia SnPb3 anterior,
que solo es apto para el análisis microscópico con
restricciones. Los materiales de referencia de
Fischer también se comprueban periódicamente
para excluir los posibles efectos del envejecimiento y garantizar una buena calidad.
Dr. Simone Dill
La figura 2 muestra las imágenes de SEM por electrones retrodispersados y un escaneado de línea
sobre el material de referencia A de la tabla 1 (arriba) y el nuevo material SnPb (abajo) sobre 1 mm de
longitud con el FISCHERSCOPE® XDV®-µ (policapilares con FWHM de aprox. 20 µm, 50 kV, filtro de Al,
50 × 25 s, precisión de repetición de 0,031%).
«observado con más detalle»
PICODENTOR® HM500 con microscopio de barrido:
visualización y cuantificación de estructuras en el
margen de nanómetros
Figura 2: medición de dureza en vidrio BK7 con una fuerza máxima de 5 mN. La
profundidad de inserción restante es de menos de 100 nm.
En los últimos años, las demandas de características de la superficie de distintos materiales han aumentado considerablemente.
Se han desarrollado sistemas de capas muy complejos para tratar
superficies resistentes a los rasguños, que repelen la suciedad,
antiestáticas, reflectantes o con capacidad de acumulación.
Figura 1: PICODENTOR® HM500 con microscopio de barrido.
No. 07
Para caracterizar las calidades mecánicas de estas capas ultrafinas,
se emplea el ensayo de penetración instrumentado, cuyos valores
característicos aportan la dureza o la elasticidad de las capas. Para
ello, se necesita una medición del trayecto precisa en el margen
de picómetros y una generación de fuerza de unos pocos micro-
FISCHERSCOPE®
newtons. Para poder medir las estructuras más pequeñas, las
muestras deben posicionarse exactamente. Para obtener más
datos sobre las características del material, el PICODENTOR®
HM500 se puede equipar opcionalmente (figura 1) con microscopio de barrido (Atomic Force Microscope, AFM). La mesa XY
lidad de medir otros tamaños. Además de la precisa medición
de distancias por el eje Z calibrado (con un ruido de fondo de
<0,05 nm), pueden determinarse la fase y la amplitud de
oscilación del cantilever. Ambos parámetros informan sobre las
características del material. Especialmente, las inserciones del
Figura 3: medición AFM (representación 3D) de una inserción con una
Figura 4: inserción en wolframio (Fmáx = 50 mN) con formaciones de arco
fuerza máxima de 5 mN (escala de eje Z: 50 nm).
claramente reconocibles.
programable con una precisión de rearranque de <0,5 μm,
la mesa activa de amortiguamiento de vibraciones y la cámara
de medición cerrada ofrecen las condiciones ideales para mediciones de AFM adicionales.
Los «Atomic Force Microscopes» comprenden un grupo de
microscopios que disponen de una punta de medición que, al
contrario que el microscopio óptico, registra la superficie de
la muestra físicamente. La estructura que se utiliza emplea un
«cantilever» con una punta de silicio muy fina para medir diferencias de altura. La superficie de medición se escanea por líneas y la
información de altura se mide punto a punto con una enorme
exactitud. La resolución en dirección XY se determina por la
curvatura de la punta de medición y, normalmente, es de una
dimensión de 10 nm. Los datos conseguidos se pueden representar de distintas formas: aparte de la topografía de la superficie,
que muestra el perfil de la altura, el AFM también ofrece la posibi-
Figura 5: toma óptica de la medición en wolframio (Fmáx = 50 mN,
100 aumentos). Claramente se pueden observar menos detalles.
indentador se pueden representar de forma ideal en las fuerzas
máximas más reducidas con ayuda del AFM. En una placa de vidrio
BK7, se llevaron a cabo mediciones con Fmáx = 5 mN (figura 2).
La fuerza máxima seleccionada lleva a una profundidad de penetración restante de menos de 50 nm.
La representación de 3D visualiza detalles que no se podrían ver
sin el AFM (figura 5). De esta forma, en algunos casos, se puede
realizar una evaluación precisa de los resultados de medición.
Dr. Tanja Haas,
Dr. Bernhard Nensel
FISCHERSCOPE®
No. 07
«de la experiencia práctica»
¿Conoce el estado de calibración correcto de su
aparato de medición de grosores de recubrimiento?
medición calculada que representa el estado de calibración
momentáneo del sistema (consulte la figura 3). Esta incertidumbre
del aparato es un componente necesario si se debe determinar la
incertidumbre total para las mediciones siguientes.
Obviamente, la incertidumbre del sistema de medición nunca
puede ser menor que la del patrón de referencia utilizado. Incluso
cuando se necesita un ajuste del aparato, el estado de calibración
solo puede mejorarse dentro del límite del patrón de referencia.
Si se desean mediciones más precisas, también es necesario un
patrón de referencia con una incertidumbre debidamente más
pequeña.
Figura 1: las sondas se deben calibrar siempre correctamente.
Los aparatos de medición de grosores de recubrimiento táctiles se
utilizan en una gran cantidad de aplicaciones diferentes. Aunque,
tanto se miden revestimientos galvánicos, pintura de automóviles
o recubrimientos anticorrosivos gruesos, generalmente se exigen
mediciones relevantes para la calidad, ya que sirven para probar el
cumplimiento de las tolerancias prescritas a los clientes. La comparabilidad de los resultados de los aparatos de medición se debe
comprobar analógicamente, p. ej., comparando las mediciones entre proveedor y cliente. Esto requiere determinar la incertidumbre
de la medición que se ha realizado según ISO/IEC Guide 98-3 y,
con ello, como primer paso, el descubrimiento del estado de
calibración actual de la sonda. No todos los usuarios prácticos
puede realizar esta determinación correctamente sin problemas.
Por eso, nuestros aparatos de medición ofrecen recursos prácticos
para realizar esta tareas. El estado de calibración de una sonda se
puede determinar con ayuda de patrones de referencia. Generalmente, estos son una lámina medida con datos de recubrimiento
e incertidumbre. ¿Cómo se realiza la comprobación? Después
de activar la función «Überprüfung Kalibrierung» (Comprobar
calibración) en el menú «Kalibrierung» (Calibración) se especifican
el valor de grosor de recubrimientos y la incertidumbre de los
patrones de referencia (consulte la figura 2) y, después, se realizan
más mediciones. ¡Listo! A continuación, el aparato de medición
muestra si el grosor especificado coincide en el marco de la incertidumbre de medición con el valor de referencia o se recomienda un
ajuste. Aparte de otra información, se muestra la incertidumbre de
Comprobación de la calibración
En rigor, la incertidumbre fijada solo es válida en la zona de
grosores de la capa directa del patrón de referencia. Si se esperan
mediciones en un intervalo de grosor de recubrimiento mayor, se
deben utilizar dos patrones de referencia que incluyan el margen
de medición.
Comprobación de la calibración
Resultado
La calibración
es correcta!
Detalles
Diferencia
0.125 µm
Incertidumbre (k=2):
0.955 µm
Valor de ensayo E:
0.131
Repeat
Figura 3: resultado de la
comprobación de la
KAL
OK
calibración.
La comprobación de la calibración y el posible ajuste se deben
llevar a cabo mediante la lámina de referencia directamente sobre
el material de base (características del material y geometría). De
esta forma, también se miden factores influyentes importantes de
la medición siguiente y se tiene en cuenta la incertidumbre, es
decir, se reduce al mínimo con un ajuste. En caso contrario, estos
componentes de error adicionales se deberían medir por separado. Además, la incertidumbre se puede reducir a menudo mediante el número de mediciones repetidas, especialmente en el
caso de que el material de base tenga una superficie áspera.
Incertidumbre
El número de mediciones individuales realizadas se registra
automáticamente y se tiene en cuenta en el cálculo de la incertidumbre.
Introduzca el tipo
de incertidumbre!
Tolerancia [µm]
tolerancia relativa [%]
Figura 2: ejemplo de
U(k=2) [µm]
comprobación de la
Uncertainty =
OK
N o . 0 7 µm
Delete
pantalla del FMP 100 en la
calibración.
Aquí se observa la petición
Las mediciones del grosor de recubrimiento correctas y relevantes
para la calidad con determinación de la incertidumbre no son
muy complicadas, pero causan problemas a muchos usuarios. El
recurso presentado ofrece una solución factible y facilita considerablemente este paso.
de la incertidumbre de
lámina.
Dr. Hans-Peter Vollmar
FISCHERSCOPE®
«de la experiencia práctica»
La gama de aparatos XAN® con nueva tecnología
y con una nueva presentación:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN® 220 y XAN® 250
Figura 1: los nuevos aparatos XAN® distintos ofrecen una gran variedad de po-
(otros tamaños disponibles opcionalmente) y un tubo de rayos X
microfocal con ánodo de wolframio y filtro primario fijo. Todos los
XAN® 220 se suministran con un programa de instalación para el
análisis de metales preciosos, que contiene las tareas de medición
típicas con una calibración de fábrica. La tabla superior (figura 3)
muestra el resultado de una calibración con 12 estándares. Se
puede ver el valor nominal del estándar (Au(%) conjunto) y el del
software WinFTM® sin calibración, valor calculado también sin
estándares (Au(%) teor.). Se puede reconocer que el valor sin
estándar es muy similar a los valores nominales y solo se debe
efectuar una pequeña corrección en la calibración. De este modo,
se garantiza una alta precisión incluso en tipos de aleación que la
calibración no incluye.
sibilidades de medición, desde mediciones de oro hasta análisis de materiales
más complejos con muchos elementos.
Hace 12 años, se presentó la gama de aparatos FISCHERSCOPE
X-RAY XAN®. Los aparatos de medición de esta gama se concibieron como sistemas de análisis compactos y potentes y, desde
entonces, tienen éxito en el mercado. A ello, sobre todo han contribuido el empleo como aparato de laboratorio universal, por
un lado, y el empleo para tareas especiales, como el análisis de
metales preciosos y de trazas, por otro. La gama de aparatos,
que se construía con pocos cambios desde su presentación, se ha
renovado a fondo y se ha dotado de muchas mejoras técnicas. Con
ello, el FISCHERSCOPE X-RAY XAN® también estará a la altura de las
crecientes demandas de nuestros clientes en el futuro.
Novedades técnicas
La mejora esencial de la potencia se ha conseguido con el detector
de deriva de silicio (SDD) con mayor superficie activa, que ya se
cambia en el XAN® 220 y en el XAN® 250. Con él, se puede trabajar
con una tasa de recuento que sea, como mínimo, el doble de alta
que con los aparatos XAN® anteriores, lo que conlleva una reducción del tiempo de medición a la mitad con la misma precisión.
Naturalmente, se pueden aprovechar el resto de ventajas del SDD,
como la buena resolución energética, la posibilidad de trabajar
con tasas de recuento muy altas y la mejor sensibilidad en energías
bajas. Hay otras novedades que, ante todo, mejoran el trabajo
diario con el aparato. Ahora, se instala de serie una cámara USB
para observar el punto de medición. Por ello, se elimina la tarjeta
de vídeo adicional para el ordenador de evaluación. Además,
todos los aparatos están equipados con ventiladores muy silenciosos, por lo que también se
puede trabajar sin problemas
en la oficina o en el espacio
de venta.
Figura 2: mediciones con los nuevos
aparatos XAN®. Aquí se observa el
modo en que se coloca sencillamente
el objeto de oro y se mide de forma no
destructiva.
El XAN® 220
El XAN® 220 está especialmente concebido para analizar aleaciones de metales
preciosos. Los aparatos están
equipados con un diafragma
fijo de 1 mm de diámetro
Figura 3: resultado de la calibración de un XAN® 220 con 12 estándares.
El XAN® 250
A diferencia del XAN® 220, el XAN® 250 está equipado con seis
filtros primarios intercambiables, por lo que la radiación de
excitación primaria se puede adaptar óptimamente a muchas
tareas de medición distintas. Además, están disponibles 4 diafragmas con distintos motores de 0,2 a 2 mm de diámetro. Con
ellos, se pueden analizar superficies de muestras de tamaños muy
distintos con un aparato. Por tanto, con un XAN® 250 se pueden
llevar a cabo tareas de medición tan distintas como el análisis de
aleaciones, la determinación del contenido de sustancias nocivas,
la medición de capas metálicas hasta en el margen de nm o el
examen de elementos con número atómico bajo. De ahí que sea
especialmente apto como aparato de laboratorio universal.
Dr. Bernhard Nensel
Fischer Instruments, S.A.
C/ Pallars, 99 Oficina 04 | E-08018 Barcelona
Tel: (+34) 93 309 79 16 | Fax: (+34) 93 485 05 94
[email protected]
FISCHERSCOPE®
No. 07