Características del Transistor de Efecto de Campo (FET)

Transcripción

Características del Transistor de Efecto de Campo (FET)
TEEL 2042: Laboratorio de Electrónica II
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2014-2015
Práctica 3: Características del Transistor de Efecto de Campo (FET).
Objetivo:
Estudiar propiedades y curvas características de transistor FET.
Referencias:
1. Notas y enlaces en página del curso (http://mate.uprh.edu/~iramos/teel2042.html).
2. Boylestad and Nashelsky, Electronic Devices and Circuit Theory, Prentice Hall, 7th Ed.,
Cap. 5.1-5.3.
Transistor de Efecto de Campo (FET)
El principio de utilizar un campo eléctrico para controlar el flujo de corriente se introdujo
mucho antes del desarrollo del transistor BJT pero no fue hasta mediados de los años 60 que
se desarrollaron componentes comerciales utilizando este principio. Los transistores de
Efecto de Campo o Field Effect Transistors (FETs) son artefactos unipolares, o sea que en el
proceso de conducción utilizan electrones o huecos y no ambos como los BJT. Los FETs se
dividen en dos categorías principales: Junction-Field-Effect-Transistors (JFETs) y MetalOxide-Semiconductor-Field-Effect-Transistors (MOSFETs).
El FET consiste de un semiconductor dopado (canal) con dos terminales en los extremos
llamados Source y Drain. La corriente en el canal (entre Drain y Source) es controlada por el
voltaje en un tercer terminal llamado Gate. Al igual que los BJT, los FETs operan como
amplificadores pero se distinguen de éstos porque la corriente de salida está controlada por
un voltaje. Las ventajas de los FETs con respecto a los BJT incluyen menos ruido, mayor
estabilidad termal, mayor disipación de potencia y que pueden sostener corrientes muy altas.
Además son más fáciles de construir y de integrar con otros componentes. Entre las desvantajas se
encuentran una pobre respuesta de frecuencia debido a la alta capacitancia de entrada y a que se
dañan fácilmente con la electricidad estática.
La figura 1 muestra la construcción y símbolos de los JFET (canal n y canal p). Bajo
condiciones normales de operación, no hay flujo de corriente en el Gate. Por lo
TEEL 2042-2015-I. Ramos
1
TEEL 2042: Laboratorio de Electrónica II
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2014-2015
tanto, ID=IS.
Polarización
La figura 2 muestra un circuito JFET polarizado y las curvas de transconductancia (ID vs VGS)
y características (ID vs VDS) de un JFET. En el JFET, se debe aplicar un voltaje de
polarización en reverse al Gate para cerrar el canal y reducir la corriente IDS. En la primera
región (lineal) la corriente aumenta linealmente con el voltaje. Esta región también se
conoce como óhmica o triodo.
En la región de saturación la corriente varía muy poco con el voltaje. Cuando VGS=0 se
obtiene la corriente máxima o IDSS (Drain-Souce current with Gate shorted). Cuando VGS se
hace más negativo, la corriente en el Drain se hace menor hasta que alcanza la región cut-off
o donde llega a cero en VG(off). La magnitud de este parámetro es equivalente al voltaje “pinchoff” ( VP) donde Vp=-VGSoff como puede verse en la figura 2.
Otra diferencia entre los BJT y los FETs es que en los primeros la variable de control en la
entrada es la corriente (IB) mientras que en el FET la variable de control es un voltaje (VGS).
La unión GS nunca debe estar en polarizada en “forward” con respecto a S. Esto
puede quemar el componente.
Transconductancia
En el JFET la relación entre la corriente de salida (ID) y el voltaje de entrada (VGS) está dada
por la ecuación de Shockley:
I D =I DSS (1−
V GS
)
V GS
2
(1)
off
L a transconductancia (gm) es un parámetro que nos permite estimar la ganancia de los
FETs y puede obtenerse de la pendiente de la curva ID vs VGS en el punto de operación (Q):
g m=
Δ ID
.
Δ V GS
(2)
Si calculamos la derivada de ID con respecto a VGS en el punto Q y utilizamos la ecuación de
TEEL 2042-2015-I. Ramos
2
TEEL 2042: Laboratorio de Electrónica II
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2014-2015
Schockley para representar ID, obtenemos:
2
g m=
d ID
V
V
V
d
d
=
[ I DSS (1− GS ) ]=2I DSS [1− GS ]
(1− GS )
d V GS dV GS
VG
V GS dV GS
VG
off
g m =2I DSS [1−
off
off
V GS
2I DSS
V GS
1
](−
)=
[1−
].
V GS
V GS
∣V GS ∣
V GS
off
off
off
off
(3)
Se utiliza del valor absoluto de VP para garantizar que gm sea positiva. El valor de la
transconductancia cuándo VGS=0 es:
2I DSS
g m0 =
∣V GS ∣
(4)
off
y por lo tanto:
g m = g m0 [1−
V GS
].
V GS
(5)
off
TEEL 2042-2015-I. Ramos
3
TEEL 2042: Laboratorio de Electrónica II
Departamento de Física y Electrónica
Universidad de Puerto Rico en Humacao
2014-2015
Práctica 1: Características JFET
1. Utilice el diagrama en la figura 3a para identificar correctamente los terminales
del JFET MPF102.
2. Construya el circuito en la figura 3b con VDD=15V. Note que el voltaje VGS=0
porque está conectado a ground. En este circuito, ID=IDSS.
◦ IDSS 1: Mida ID directamente utilizando un multímetro digital propio. o de la
profesor. Nota: Asegúrese de hacer la medida tan pronto encienda el
power supply ya que la corriente se irá reduciendo al calentarse el
transistor.
◦ IDSS 2: Conecte un resistor de RD=470Ω entre el Drain y la fuente, y mida el
voltaje (necesitará un resistor) y calcule corriente.
Compare los valores de IDSS con los reportados en la hoja de datos de su JFET?
Determine cuál método es más efectivo para medir este valor.
3. Construya el circuito en la figura 3c, utilizando el mismo transistor de la parte
anterior, RG=1kΩ , RD=470Ω y VDD=15V. Note que el valor de VGS0ff es el voltaje
cuando ID es cero o aproximadamente cero. Aumente la magnitud de su voltaje
negativo (VGG) hasta que la corriente baje hasta cerca de 0 o indirectamente hasta
que VD S ≈ VDD. Mida el valor de VGSoff. Compare con los resultados en la hoja de
datos del componente.
4. Utilizando los valores medidos de IDSS y VGSoff, calcule la transconductancia cuando
VGS = 0 V. Compare con los resultados en la hoja de datos del componente.
5. Si los valores obtenidos para ID S S , VGSoff, gm0 son incorrectos, debe repetir las
medidas o cambiar el componente. Una vez que obtenga los valores correctos,
guarde estos parámetros ya que se utilizarán en los próximos laboratorios.
6. Varíe el voltaje VGS en la figura 3b para que la corriente (ID) fluctúe entre IDSS y 0
(o sea para que VGS fluctúe entre 0 y VGSoff). Mida la corriente ID para al menos 5
valores de VGS.
7.
Trace la curva de ID versus VGS y compare con la ecuación de Shockley. Discuta
los resultados obtenidos.
TEEL 2042-2015-I. Ramos
4

Documentos relacionados