Inauguración de las nuevas instalaciones de FISCHER
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Inauguración de las nuevas instalaciones de FISCHER
No. 07 01 E S PA Ñ A 10/09 FISCHER NEWSLETTER Espesor de Recubrimientos Análisis de Materiales Microdureza Ensayo de Materiales «editorial» «observado con más detalle» Estimados lectores Inauguración de las nuevas instalaciones de FISCHER INSTRUMENTS, S.A.U Nos complace entregarle la última edición de nuestro boletín de noticias FISCHERSCOPE. Este año, hemos invertido nuevamente en proximidad con el cliente y competencia en Europa, Asia y Sudamérica. Con la apertura de nuestras dos oficinas nuevas en São Paulo (Brasil) y Seúl (Corea del Sur) y el traslado a las oficinas nuevas en Milán (Italia) y Barcelona (España), hemos ampliado nuestra red global de venta, servicio técnico y competencia. No obstante, también en otras áreas estamos más cerca del cliente: por ejemplo, FISCHER participó, por primera vez tras varios años, en la BASELWORLD 2012, se llevaron a cabo numerosos seminarios para clientes sobre el tema «medición» y se dotaron de nuevos recursos los laboratorios de aplicación en forma de nuevos empleados, etcétera. Contenido de esta edición: a raíz de la huida mundial hacia los valores duraderos el precio del oro llega a máximos históricos. Con el nuevo instrumento por fluorescencia de rayos X XAN® 220, FISCHER ofrece la solución adecuada para efectuar de forma rápida, no destructiva y, sobre todo, fiable pruebas del contenido de oro. La precisión de estos equipos se encuentra ahora al más alto nivel. La corrección se garantiza gracias a los estándares de oro de Helmut Fischer. Consulte el artículo de la última página, pero también el primero sobre los análisis rápidos y sencillos de oligoelementos en materiales para la bisutería y los accesorios. Además de los equipos de medición, Helmut Fischer también fabrica para estos patrones de calibración de gran calidad. Su uso garantiza una medición correcta. Por ejemplo, en la página 3, le presentamos los nuevos estándares SnPb. Póngase en contacto con nosotros para hacernos llegar sus aportaciones y observaciones sobre nuestros artículos o respecto a una tarea de medición especial. Estaremos encantados de asesorarle. Atenamente, Walter Mittelholzer Joan Pujol CEO Director Técnico Helmut Fischer Holding AG Fischer Helmut Fischer AG Instruments, S.A. El pasado día 29 de Noviembre tuvo lugar la inauguración oficial de las nuevas instalaciones de FISCHER INSTRUMENTS, S.A.U. en Barcelona en el número 99 de la calle Pallars y en el nuevo barrio tecnológico del 22@. La inauguración fue realizada por el Sr. Walter Mittelholzer, Director Gerente de HELMUT FISCHER A.G. y HELMUT FISCHER HOLDING, A.G., que se desplazó expresamente desde Suiza para encabezar el acto, el Sr. Christoph Hüssler, Director comercial para Europa de HELMUT FISCHER, A.G. y por el Sr. Joan Pujol, Responsable de FISCHER en España; también acudieron responsables de la prensa técnica, proveedores, clientes y empleados, que han permitido a la empresa consolidarse y avanzar con paso firme. Después de unos breves parlamentos en los que se hizo un recuerdo a los momentos más destacados de la historia de la sociedad el Sr. Mittelholzer procedió a descorrer la cortina que cubría la placa conmemorativa del acto Con unas instalaciones de más de 350 metros cuadrados se refuerza también la presencia de la compañía en España, después de que HELMUT FISCHER HOLDING, A.G. haya inaugurado este año nuevas instalaciones en Italia, Brasil y Corea del Sur. A destacar en esta nueva infraestructura es la sala de demostraciones de más de cincuenta metros cuadrados donde se exponen todos los equipos de la gama FISCHER; medidores de espesores de recubrimientos por los métodos tradicionales y por fluorescencia de rayos X y ensayo de materiales. Además se ha instalado un equipo para el análisis de materiales por fluorescencia de rayos X que incorpora un sistema para realizar el vacío y un ultra micro durómetro para realizar ensayos de dureza a escala nanométrica. Con estas instalaciones FISCHER apuesta claramente por proporcionar más atención al cliente y un mejor servicio post-venta, al invertir en este nuevo centro más amplio y moderno, con una zona importante dedicada a la demostración de sus productos y con el objetivo de dar una atención y servicio impecables. «de la experiencia práctica» Análisis de oligoelementos en materiales para la bisutería y los accesorios Figura 1: los artículos de bisutería están en contacto constante con la piel humana. Por tanto, el contenido de sustancias nocivas está limitado en cada material. En todo el mundo, se están haciendo esfuerzos para limitar la concentración de ciertos elementos químicos en los bienes de consumo. Después de que elementos como el plomo, el mercurio, etcétera, se hayan «eliminado» de los productos electrónicos, también se deben establecer directrices parecidas para otros productos. Se ven afectados, por ejemplo, artículos de bisutería, piezas de relojes o accesorios, como piezas metálicas de bolsos, monederos u otras partes de prendas de vestir. Por ello, trabajan organizaciones estatales, como, por ejemplo, la CPSC de EE. UU., y comisiones específicas de cada gremio, como, por ejemplo, Oeko-Tex®, una organización que lucha por los tejidos sin sustanoligoelemento matriz desviación típica [ppm] Pb ABS Al 0.5 2 Pb Cu Zn Sn Latón, real SnBi2, real SnBi50, real 13 20 0.6 10 – 30 5 – 15 50 – 100 Tabla 1: valores típicos para precisión de repetición de los valores individuales en la medición de oligoelementos (EDXRF). Las desviaciones típicas son una medida directa para las concentraciones mínimas, que se pueden comprobar cias nocivas. Se deben limitar diversas sustancias nocivas orgánicas, pero también metales pesados, especialmente Pb, Cd y Ni. Los valores límite varían considerablemente según el país y el sector. Las empresas que producen para el mercado global siguen, razonablemente, las directrices más estrictas para facilitar el comercio. Esto significa, por ejemplo, máx. 100 ppm de Cd y máx. 90 ppm. de Pb. Las piezas metálicas de la bisutería o los accesorios no se fabrican con materiales macizos debido a los costes. Los cuerpos base se fabrican con aleaciones baratas, especialmente bien trabajadas, y se cubren con capas decorativas, a continuación. En ello, tanto el material de base como el de la capa no deben contener Pb ni Cd. Sin embargo, comprobarlo individualmente no es trivial. Por eso, se analiza el modelado y el revestimiento de los materiales base, como latones, aleaciones de cinc, etcétera, de la forma más eficiente. Los análisis se llevan a cabo, normalmente, con emisión óptica ICP o aparatos de análisis de fluorescencia de rayos X. Los puntos fuertes de ambos métodos son muy diferentes y complementarios. Los análisis EDXRF son muy eficaces y baratos y la comprobación normalmente es suficiente (consulte la tabla 1). La tabla ilustra que la comprobación de trazas de plomo en aluminio es mucho más fácil que en soldaduras de SnBo o latones. ¿Por qué es esto así, es decir, cómo se puede calcular la dificultad de este tipo de tareas de medición? Básicamente, los elementos pesa- en un material (límite de determinación ~3 × desv. típ.). FISCHERSCOPE® No. 07 dos (con número atómico alto) se pueden comprobar bien en materiales matriz (con número atómico bajo). La comprobación de Pb en plásticos, metales ligeros o materiales óxidos funciona muy bien con EDXRF. En cambio, las aleaciones de In Fe, Cu y Zn son más difíciles para esta comprobación. Para contemplaciones más concretas, se debe tener en cuenta la situación específica en el espectro de fluorescencia (energías concretas de cada línea de fluorescencia, comportamiento, absorción / excitación recíprocas). Los límites de determinación profundos son un requisito importante para el método. Además, la exactitud de las mediciones también se debe tener muy en cuenta. Esta se ha analizado en diversas tareas de medición. Figura 2: correlación de mediciones de concentración XRF de Pb y valores nominales certificados. Los datos son muy exactos ya antes de la calibración y esto es muy importante en un proceso de medición robusto. Como la variación de los valores de medición de componentes reales es mayor que en Como ejemplo, aquí se muestran algunos resultados de los exigentes análisis XRF de aleaciones de fundición de ZnAl con aparatos FISCHERSCOPE XDV®-SDD (consulte la figura 2). Incluso sin calibración, los valores de medición se acercan mucho a los valores nominales certificados. Los aparatos FISCHER X-Ray se utilizan en todo el mundo para la selección de materiales para producir bisutería o accesorios. los elementos puros, se debe trabajar con valores medios de varias mediciones individuales (aquí se muestran valores medios de diez mediciones individuales, 95 % de intervalo de confianza). Dr. Daniel Sutter, Helmut Fischer AG (Suiza) «observado con más detalle» Estándares de calibración SnPb nuevos para análisis de fluorescencia por rayos X en el campo de alta fiabilidad La figura 1 muestra diversas placas de circuito impreso. La soldadura y los revestimientos de los grupos de construcción electrónicos se pueden medir, por ejemplo, con el FISCHERSCOPE® XDAL®. El método por fluorescencia de rayos X no destructivo es muy apto para analizar la composición de soldaduras y revestimientos de estaño. Especialmente el análisis de Pb en aleaciones de estaño para soldar es una aplicación importante y muy extendida de los No. 07 aparatos FISCHERSCOPE® X-RAY. Por un lado, la cantidad de Pb permitida está limitada por razones sanitarias y, por otro, también hay aplicaciones en las que el estaño para soldar debe contener una concentración mínima de Pb. La norma RoHS regula el uso de FISCHERSCOPE® distintas sustancias nocivas, entre ellas Pb en componentes electrónicos, para que estas no puedan llegar multiplicadas al medio ambiente. Así, en los últimos años se han sustituido las soldaduras que contenían Pb por otras sin plomo y se debe comprobar que el Pb no supere el valor límite de 1000 ppm. La Consumer Product Safety Improvement Act (Ley de mejora de la seguridad de los productos: CPSIA) también ha regulado el uso de Pb y en 2011 bajó el valor límite permitido a 100 ppm. dependen, no obstante, de los más distintos factores. Entre otros, influyen el proceso de fabricación, por ejemplo, si la aleación se enfrió de golpe o poco a poco, la elaboración mecánica de la superficie, el almacenamiento y el envejecimiento de las muestras, etcétera. La tabla 1 muestra imágenes de SEM de electrones retrodispersados de distintas muestras de SnPb con un contenido de Pb mayor al 3 %, así como los resultados sin estándar correspondientes. Las «islas» claras son la fase abundante en Pb, la «matriz» gris oscura es la fase abundante en Sn. Se puede identificar que las «islas» pueden tomar una dimensión distinta y que están repartidas más o menos homogéneamente. La extensión, es decir, la heterogeneidad, también influye en las condiciones de intensidad de las líneas de fluorescencia de rayos X. En la muestra de referencia homogénea, el valor XRF sin estándar tiene mucha coincidencia con el valor nominal, así que el contenido en Pb también se puede comprobar bien sin estándar. No obstante, cuanto más crece la heterogeneidad, la desviación con el valor nominal aumenta (consulte la tabla 1). Sin embargo, en los sectores de la aviación y de la tecnología médica (aplicaciones de alta fiabilidad) se requieren únicamente soldaduras que contengan Pb. En este punto, se debe probar que las aleaciones para soldar contienen un 3 % de Pb como mínimo. La razón es que el Sn puro tiende a formar triquitas. Las triquitas sin monocristales de Sn aciculares que aparecen en la superficie después de cierto tiempo y pueden provocar un cortocircuito. La comprobación de estos componentes es, por lo tanto, una tarea importante y de gran responsabilidad, que, generalmente, necesita un control total de todos los componentes de construcción. Un efecto del envejecimiento, que también se describe en la documentación, puede notarse en las aleaciones SnPb con contenidos de Pb en el intervalo de ppm. De este modo, se podría observar, especialmente en muestras que se han almacenado inadecuadamente (por ejemplo, en una temperatura demasiado elevada), un Con ayuda del análisis de fluorescencia por rayos X, se puede medir la composición de las aleaciones de estaño para soldar rápidamente y de forma no destructiva. Con el software WinFTM, también se puede determinar el grosor de recubrimiento y, con él, muestra de referencia a snpb3 muestra snpb3 muestra snpb8 alambre eutéctico snpb38 10 μm 10 μm 10 μm 50 μm Valor nominal de Pb en porcentaje de masa % 3,1 (+/- 0,15) 3,0 8,5 38 Pb medido en porcentaje de masa % 3,0 2,8 7,5 33,6 Rel. dif. nominal, según % 3 6 12 12 sinh (Heterogeneidad) 0,05 0,11 0,3 1,0 Imagen de SEM por electrones retrodispersados Tabla 1: mediciones de distintas aleaciones de SnPb con el FISCHERSCOPE® XDAL®. (50 kV, filtro Ni, diafragma 0,2 mm × 0,2 mm, superficie 3 mm × 3 mm con 64 puntos, tiempo de medición de 100 s, la heterogeneidad sinh se calcula de sinh2 = sges2 - swdh2). la composición correcta del revestimiento de SnPb en distintos componentes electrónicos, como placas de circuito impreso, enchufes y contactos, resistencias BGA o SMD y condensadores (figura 1). Al medir la composición de SnPb, se debe prestar atención a la capa de acabado de componentes de construcción SMD, ya que la cerámica o las capas subyacentes también pueden contener Pb. Para este caso, existe una tarea de medición especial que lo tiene en cuenta. El Sn y el Pb constituyen una aleación eutéctica. Siempre existen simultáneamente una fase abundante en Sn y una abundante en Pb. La solubilidad máxima de Pb en Sn se eleva al 2,5 % de la masa y la de Sn en Pb, al 19 % de la masa. Esta composición real de las fases y la homogeneidad, es decir, la estructura de esta aleación, FISCHERSCOPE® aumento de la concentración de Pb pasados unos años. El Pb se había concentrado en la superficie. Por lo que la superficie de esta muestra envejecida deberá volver a pulirse antes de la medición. A la vez, debe observarse que no entre en contacto con la muestra una solución adherida. Esta problemática muestra claramente la importancia que tiene que los materiales de referencia se elaboren cuidadosamente para el sistema y que se comprueben regularmente. Helmut Fischer GmbH ofrece materiales de referencia para ambas aplicaciones (RoHS y alta fiabilidad), en la fabricación de los cuales se ha dedicado un gran esfuerzo en la homogeneidad del material. Ahora, la calidad de las aleaciones con 3 % de Pb se puede mejorar considerablemente con un nuevo procedimiento de fabricación, No. 07 para que se pueda alcanzar una buena distribución homogénea de la fase abundante del Pb incluso con aparatos de fluorescencia por rayos X con ningún punto de medición inferior a 50 μm (por ejemplo, con el XDVR-μ con óptica X policapilar. La figura 2 muestra la imagen de SEM por electrones retrodispersados correspondientes, así como un escaneado de línea sobre la muestra en comparación con un material de referencia SnPb3 anterior, que solo es apto para el análisis microscópico con restricciones. Los materiales de referencia de Fischer también se comprueban periódicamente para excluir los posibles efectos del envejecimiento y garantizar una buena calidad. Dr. Simone Dill La figura 2 muestra las imágenes de SEM por electrones retrodispersados y un escaneado de línea sobre el material de referencia A de la tabla 1 (arriba) y el nuevo material SnPb (abajo) sobre 1 mm de longitud con el FISCHERSCOPE® XDV®-µ (policapilares con FWHM de aprox. 20 µm, 50 kV, filtro de Al, 50 × 25 s, precisión de repetición de 0,031%). «observado con más detalle» PICODENTOR® HM500 con microscopio de barrido: visualización y cuantificación de estructuras en el margen de nanómetros Figura 2: medición de dureza en vidrio BK7 con una fuerza máxima de 5 mN. La profundidad de inserción restante es de menos de 100 nm. En los últimos años, las demandas de características de la superficie de distintos materiales han aumentado considerablemente. Se han desarrollado sistemas de capas muy complejos para tratar superficies resistentes a los rasguños, que repelen la suciedad, antiestáticas, reflectantes o con capacidad de acumulación. Figura 1: PICODENTOR® HM500 con microscopio de barrido. No. 07 Para caracterizar las calidades mecánicas de estas capas ultrafinas, se emplea el ensayo de penetración instrumentado, cuyos valores característicos aportan la dureza o la elasticidad de las capas. Para ello, se necesita una medición del trayecto precisa en el margen de picómetros y una generación de fuerza de unos pocos micro- FISCHERSCOPE® newtons. Para poder medir las estructuras más pequeñas, las muestras deben posicionarse exactamente. Para obtener más datos sobre las características del material, el PICODENTOR® HM500 se puede equipar opcionalmente (figura 1) con microscopio de barrido (Atomic Force Microscope, AFM). La mesa XY lidad de medir otros tamaños. Además de la precisa medición de distancias por el eje Z calibrado (con un ruido de fondo de <0,05 nm), pueden determinarse la fase y la amplitud de oscilación del cantilever. Ambos parámetros informan sobre las características del material. Especialmente, las inserciones del Figura 3: medición AFM (representación 3D) de una inserción con una Figura 4: inserción en wolframio (Fmáx = 50 mN) con formaciones de arco fuerza máxima de 5 mN (escala de eje Z: 50 nm). claramente reconocibles. programable con una precisión de rearranque de <0,5 μm, la mesa activa de amortiguamiento de vibraciones y la cámara de medición cerrada ofrecen las condiciones ideales para mediciones de AFM adicionales. Los «Atomic Force Microscopes» comprenden un grupo de microscopios que disponen de una punta de medición que, al contrario que el microscopio óptico, registra la superficie de la muestra físicamente. La estructura que se utiliza emplea un «cantilever» con una punta de silicio muy fina para medir diferencias de altura. La superficie de medición se escanea por líneas y la información de altura se mide punto a punto con una enorme exactitud. La resolución en dirección XY se determina por la curvatura de la punta de medición y, normalmente, es de una dimensión de 10 nm. Los datos conseguidos se pueden representar de distintas formas: aparte de la topografía de la superficie, que muestra el perfil de la altura, el AFM también ofrece la posibi- Figura 5: toma óptica de la medición en wolframio (Fmáx = 50 mN, 100 aumentos). Claramente se pueden observar menos detalles. indentador se pueden representar de forma ideal en las fuerzas máximas más reducidas con ayuda del AFM. En una placa de vidrio BK7, se llevaron a cabo mediciones con Fmáx = 5 mN (figura 2). La fuerza máxima seleccionada lleva a una profundidad de penetración restante de menos de 50 nm. La representación de 3D visualiza detalles que no se podrían ver sin el AFM (figura 5). De esta forma, en algunos casos, se puede realizar una evaluación precisa de los resultados de medición. Dr. Tanja Haas, Dr. Bernhard Nensel FISCHERSCOPE® No. 07 «de la experiencia práctica» ¿Conoce el estado de calibración correcto de su aparato de medición de grosores de recubrimiento? medición calculada que representa el estado de calibración momentáneo del sistema (consulte la figura 3). Esta incertidumbre del aparato es un componente necesario si se debe determinar la incertidumbre total para las mediciones siguientes. Obviamente, la incertidumbre del sistema de medición nunca puede ser menor que la del patrón de referencia utilizado. Incluso cuando se necesita un ajuste del aparato, el estado de calibración solo puede mejorarse dentro del límite del patrón de referencia. Si se desean mediciones más precisas, también es necesario un patrón de referencia con una incertidumbre debidamente más pequeña. Figura 1: las sondas se deben calibrar siempre correctamente. Los aparatos de medición de grosores de recubrimiento táctiles se utilizan en una gran cantidad de aplicaciones diferentes. Aunque, tanto se miden revestimientos galvánicos, pintura de automóviles o recubrimientos anticorrosivos gruesos, generalmente se exigen mediciones relevantes para la calidad, ya que sirven para probar el cumplimiento de las tolerancias prescritas a los clientes. La comparabilidad de los resultados de los aparatos de medición se debe comprobar analógicamente, p. ej., comparando las mediciones entre proveedor y cliente. Esto requiere determinar la incertidumbre de la medición que se ha realizado según ISO/IEC Guide 98-3 y, con ello, como primer paso, el descubrimiento del estado de calibración actual de la sonda. No todos los usuarios prácticos puede realizar esta determinación correctamente sin problemas. Por eso, nuestros aparatos de medición ofrecen recursos prácticos para realizar esta tareas. El estado de calibración de una sonda se puede determinar con ayuda de patrones de referencia. Generalmente, estos son una lámina medida con datos de recubrimiento e incertidumbre. ¿Cómo se realiza la comprobación? Después de activar la función «Überprüfung Kalibrierung» (Comprobar calibración) en el menú «Kalibrierung» (Calibración) se especifican el valor de grosor de recubrimientos y la incertidumbre de los patrones de referencia (consulte la figura 2) y, después, se realizan más mediciones. ¡Listo! A continuación, el aparato de medición muestra si el grosor especificado coincide en el marco de la incertidumbre de medición con el valor de referencia o se recomienda un ajuste. Aparte de otra información, se muestra la incertidumbre de Comprobación de la calibración En rigor, la incertidumbre fijada solo es válida en la zona de grosores de la capa directa del patrón de referencia. Si se esperan mediciones en un intervalo de grosor de recubrimiento mayor, se deben utilizar dos patrones de referencia que incluyan el margen de medición. Comprobación de la calibración Resultado La calibración es correcta! Detalles Diferencia 0.125 µm Incertidumbre (k=2): 0.955 µm Valor de ensayo E: 0.131 Repeat Figura 3: resultado de la comprobación de la KAL OK calibración. La comprobación de la calibración y el posible ajuste se deben llevar a cabo mediante la lámina de referencia directamente sobre el material de base (características del material y geometría). De esta forma, también se miden factores influyentes importantes de la medición siguiente y se tiene en cuenta la incertidumbre, es decir, se reduce al mínimo con un ajuste. En caso contrario, estos componentes de error adicionales se deberían medir por separado. Además, la incertidumbre se puede reducir a menudo mediante el número de mediciones repetidas, especialmente en el caso de que el material de base tenga una superficie áspera. Incertidumbre El número de mediciones individuales realizadas se registra automáticamente y se tiene en cuenta en el cálculo de la incertidumbre. Introduzca el tipo de incertidumbre! Tolerancia [µm] tolerancia relativa [%] Figura 2: ejemplo de U(k=2) [µm] comprobación de la Uncertainty = OK N o . 0 7 µm Delete pantalla del FMP 100 en la calibración. Aquí se observa la petición Las mediciones del grosor de recubrimiento correctas y relevantes para la calidad con determinación de la incertidumbre no son muy complicadas, pero causan problemas a muchos usuarios. El recurso presentado ofrece una solución factible y facilita considerablemente este paso. de la incertidumbre de lámina. Dr. Hans-Peter Vollmar FISCHERSCOPE® «de la experiencia práctica» La gama de aparatos XAN® con nueva tecnología y con una nueva presentación: FISCHERSCOPE X-RAY XAN® 220 y XAN® 250 Figura 1: los nuevos aparatos XAN® distintos ofrecen una gran variedad de po- (otros tamaños disponibles opcionalmente) y un tubo de rayos X microfocal con ánodo de wolframio y filtro primario fijo. Todos los XAN® 220 se suministran con un programa de instalación para el análisis de metales preciosos, que contiene las tareas de medición típicas con una calibración de fábrica. La tabla superior (figura 3) muestra el resultado de una calibración con 12 estándares. Se puede ver el valor nominal del estándar (Au(%) conjunto) y el del software WinFTM® sin calibración, valor calculado también sin estándares (Au(%) teor.). Se puede reconocer que el valor sin estándar es muy similar a los valores nominales y solo se debe efectuar una pequeña corrección en la calibración. De este modo, se garantiza una alta precisión incluso en tipos de aleación que la calibración no incluye. sibilidades de medición, desde mediciones de oro hasta análisis de materiales más complejos con muchos elementos. Hace 12 años, se presentó la gama de aparatos FISCHERSCOPE X-RAY XAN®. Los aparatos de medición de esta gama se concibieron como sistemas de análisis compactos y potentes y, desde entonces, tienen éxito en el mercado. A ello, sobre todo han contribuido el empleo como aparato de laboratorio universal, por un lado, y el empleo para tareas especiales, como el análisis de metales preciosos y de trazas, por otro. La gama de aparatos, que se construía con pocos cambios desde su presentación, se ha renovado a fondo y se ha dotado de muchas mejoras técnicas. Con ello, el FISCHERSCOPE X-RAY XAN® también estará a la altura de las crecientes demandas de nuestros clientes en el futuro. Novedades técnicas La mejora esencial de la potencia se ha conseguido con el detector de deriva de silicio (SDD) con mayor superficie activa, que ya se cambia en el XAN® 220 y en el XAN® 250. Con él, se puede trabajar con una tasa de recuento que sea, como mínimo, el doble de alta que con los aparatos XAN® anteriores, lo que conlleva una reducción del tiempo de medición a la mitad con la misma precisión. Naturalmente, se pueden aprovechar el resto de ventajas del SDD, como la buena resolución energética, la posibilidad de trabajar con tasas de recuento muy altas y la mejor sensibilidad en energías bajas. Hay otras novedades que, ante todo, mejoran el trabajo diario con el aparato. Ahora, se instala de serie una cámara USB para observar el punto de medición. Por ello, se elimina la tarjeta de vídeo adicional para el ordenador de evaluación. Además, todos los aparatos están equipados con ventiladores muy silenciosos, por lo que también se puede trabajar sin problemas en la oficina o en el espacio de venta. Figura 2: mediciones con los nuevos aparatos XAN®. Aquí se observa el modo en que se coloca sencillamente el objeto de oro y se mide de forma no destructiva. El XAN® 220 El XAN® 220 está especialmente concebido para analizar aleaciones de metales preciosos. Los aparatos están equipados con un diafragma fijo de 1 mm de diámetro Figura 3: resultado de la calibración de un XAN® 220 con 12 estándares. El XAN® 250 A diferencia del XAN® 220, el XAN® 250 está equipado con seis filtros primarios intercambiables, por lo que la radiación de excitación primaria se puede adaptar óptimamente a muchas tareas de medición distintas. Además, están disponibles 4 diafragmas con distintos motores de 0,2 a 2 mm de diámetro. Con ellos, se pueden analizar superficies de muestras de tamaños muy distintos con un aparato. Por tanto, con un XAN® 250 se pueden llevar a cabo tareas de medición tan distintas como el análisis de aleaciones, la determinación del contenido de sustancias nocivas, la medición de capas metálicas hasta en el margen de nm o el examen de elementos con número atómico bajo. De ahí que sea especialmente apto como aparato de laboratorio universal. Dr. Bernhard Nensel Fischer Instruments, S.A. C/ Pallars, 99 Oficina 04 | E-08018 Barcelona Tel: (+34) 93 309 79 16 | Fax: (+34) 93 485 05 94 [email protected] FISCHERSCOPE® No. 07